目前，使用單片機(jī)對(duì)低速開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)，常見有下面四種(1)如圖I所示，使用CPU的I/O 口 PO，對(duì)接地的低速開關(guān)進(jìn)行檢測(cè)，只能檢測(cè)出開關(guān)的接地和懸空兩種狀態(tài)，不能檢測(cè)出接電源狀態(tài)。⑵如圖2所示，使用CPU的I/O 口，對(duì)接電源VCC的低速開關(guān)進(jìn)行檢測(cè)，只能檢測(cè)出低速開關(guān)的接電源和懸空兩種狀態(tài)，不能檢測(cè)接地狀態(tài)。(3)如圖3所示，使用CPU的I/O 口，低速開關(guān)的動(dòng)觸點(diǎn)在電源VCC和接地之間切換，能夠檢測(cè)出 低速開關(guān)的接電源和接地兩種狀態(tài)，但不能檢測(cè)出懸空狀態(tài)。(4)如圖4所示，使用CPU的模數(shù)轉(zhuǎn)換口 AD0，低速開關(guān)的動(dòng)觸點(diǎn)在電源VCC和接地之間切換，可檢測(cè)出低速開關(guān)的接電源、接地和懸空三種狀態(tài)，但CPU的A/D 口資源有限。所述低速開關(guān)，是指開關(guān)頻率為IOOHz及以下的開關(guān)。