首推“硅生命周期管理”,新思科技讓SoC 產能、良率更上層樓


原標題:首推“硅生命周期管理”,新思科技讓SoC 產能、良率更上層樓
新思科技推出的“硅生命周期管理(SLM)”平臺,為SoC(系統級芯片)的產能和良率提升帶來了顯著的改進。以下是對該平臺的詳細介紹:
一、背景與目的
隨著電子系統的日益復雜,對芯片的性能、可靠性和良率要求也越來越高。然而,傳統的芯片設計方法往往難以滿足這些要求,尤其是在芯片的生產和測試階段。為了提升芯片的生產性能、可靠性及良率,并進一步降低成本,新思科技推出了硅生命周期管理平臺。
二、硅生命周期管理平臺概述
硅生命周期管理平臺(SLM)是一套全新的流程,它在半導體元件的設計、制造、測試和最終用戶系統部署的過程中,對半導體元件進行監控、分析和優化。該平臺以資料分析導向(Data-analytics-driven)為方法,從設計階段到終端用戶部署進行SoC的最佳化。
三、平臺功能與優勢
數據收集與分析
SLM平臺能夠在每個芯片的整個生命周期內,盡可能收集與該芯片相關的有用資料。
通過對每個芯片中嵌入的監控器和傳感器收集的數據進行分析,深入了解每個芯片的運行情況。
性能優化
SLM平臺可以為芯片設計人員提供優化建議,從而改善芯片與系統相關的運行表現。
通過優化設計,可以大幅提升芯片的性能和可靠性。
良率提升
SLM平臺能夠識別系統性的良率限制問題,并采取相應的優化措施,從而提升芯片的良率。
通過持續分析硅和生產測試數據,不斷調整測試和篩檢標準,確保只將良好的元件放行至產品線。
縮短測試時間
SLM平臺通過數據挖掘、監控/分析和報告,能夠實施自適應測試警報和更完善的控制措施。
這使得測試過程更加高效,有效縮短了測試時間。
提前上市時間
由于在設計和測試階段進行了充分的優化和驗證,SLM平臺可以幫助芯片和系統更快地進入市場。
長期性能監控與優化
在系統的有效運行期內,工作負載會變化,軟件和固件要求會變化,晶體管也會老化。
SLM平臺提供各種信息分析,使芯片和系統適應這些變化,從而使開發時間更短、驗證效率更高以及長期性能更佳。
四、應用案例與效果
新思科技的SLM平臺已經在多個項目中得到了應用,并取得了顯著的效果。例如,通過該平臺,一些SoC團隊已經實現了更快的良率提升和更好的最終良率,同時縮短了測試時間并提升了產品質量。此外,該平臺還幫助芯片和系統更快地進入市場,并在運行期內保持了卓越的性能、功耗、可靠性和安全性。
五、總結
新思科技的硅生命周期管理平臺(SLM)為SoC的產能和良率提升帶來了顯著的改進。通過數據收集與分析、性能優化、良率提升、縮短測試時間以及提前上市時間等功能和優勢,該平臺為芯片設計人員和終端用戶帶來了諸多好處。未來,隨著技術的不斷發展,SLM平臺有望在更多領域得到應用和推廣。
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